幹法全自動激光粒度分析儀

LAP-D2000幹法全自動激光粒度分析儀(yi)

我公司視“打造國產(chan) 穩定的激光粒度儀(yi) 器”為(wei) 己任，以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為(wei) 方針，全力打造超穩定、高性價(jia) 比的國產(chan) 激光粒度儀(yi) 器。D2000自上市以來贏得了廣大客戶的*。

LAP-D2000屬於(yu) 幹法全自動激光粒度儀(yi) ，被廣泛應用到粉體(ti) 行業(ye) ，我公司針對不同行業(ye) 設計了不同模板，客戶可根據自己需要選擇水泥模版、磨料模版等等。

智能型幹粉激光粒度分析儀(yi) 控製係統原理圖

LAP-D2000激光粒度分析儀(yi) 主要性能特點：

*的光路設計：LAP-D2000采用會(hui) 聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀(yi) 器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測試能力。*的自動對中係統及電腦操作係統彰顯出LAP-D2000人性化設計。

高穩定光路優(you) 化：*的設計讓LAP-D2000擁有了*的高穩定光路，它采用了高穩定、大功率光纖輸出激光器，優(you) 良的配置使LAP-D2000擁有了*的穩定性；主要光路采取了全封閉設計，保證了儀(yi) 器在複雜環境長時間測試。

*的幹法分散係統：D2000分散係統在法國理論數據的基礎上進行了優(you) 化設計，使LAP-D2000對幹粉的分散更加均勻，*的負壓保證了進料的連續性及均勻性，有效避免測試過程中幹粉的相互粘連。

   探測器：LAP-D2000探測器采用了主探測器與(yu) 副探測器結合的全新設計，保證了儀(yi) 器全量程內(nei) 無縫探測，使測試更加準確。主探測器設計了自動對中係統，可實現儀(yi) 器的一鍵自動對中，彰顯人性化設計。同時有效避免手動對中對探測器的損害，有效延長了儀(yi) 器的使用壽命。

防塵、防震設計：儀(yi) 器整體(ti) 進行了密封設計，大幅提高了內(nei) 部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀(yi) 器的幹擾，使結果測試更穩定可靠。

光路自動校對：光路微變，儀(yi) 器可以自行對光路進行調節，避免手動調節時損壞探測器。

管道無殘留：測試完成後管道內(nei) 無殘留樣品，不會(hui) 對下次測試造成幹擾。

計算機控製喂料：測試人員可借助計算機控製儀(yi) 器進料量。

軟件：符合藥典GMP規定，具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。

對於(yu) 製藥行業(ye) 客戶，可以提供3Q認證。

測試界麵

光路自動對中功能圖

主要技術參數：

測試報告：