磨粉激光粒度儀供應廠家

磨粉激光粒度儀(yi) 供應廠家

磨粉按照研磨粉顆粒的尺寸大小來區分的，一般被分為(wei) 磨粒、磨粉、微粉和精粉四種。粉體(ti) 樣品中不同粒徑顆粒占顆粒總量的百分數。有區間分布和累計分布兩(liang) 種形式。區間分布又稱為(wei) 微分分布或頻率分布，它表示一係列粒徑區間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小於(yu) 或大於(yu) 某粒徑顆粒的百分含量。磨粉激光粒度儀(yi) 是一款用於(yu) 檢測研磨粉顆粒粒徑及粒徑分布的精密儀(yi) 器，該儀(yi) 器具有測試速度快、測試範圍寬、重複性和真實性好、操作簡便等優(you) 點。

磨粉激光粒度儀(yi) 供應廠家

磨粉激光粒度儀(yi) 適用範圍：

     LAP-DW2000激光粒度儀(yi) 廣泛應用於(yu) 水泥、陶瓷、藥品、乳液、塗料、染料、顏料、填料、化工產(chan) 品、催化劑、鑽井泥漿、磨料、潤滑劑、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農(nong) 藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與(yu) 非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料。

LAP-DW2000幹濕一體(ti) 激光粒徑檢測儀(yi) 主要性能特點：

*的光路設計：LAP-DW2000激光粒度儀(yi) 采用會(hui) 聚光傅立葉變換測試技術，保證在較短的焦距獲得大量程，有效提高儀(yi) 器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓LAP-DW2000擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元的使用讓LAP-DW2000具有*的全量程無縫測試能力。

幹、濕一鍵切換：幹濕切換將由儀(yi) 器自動完成，全部過程10S內(nei) 完成。

主探測器Z向自動移動：幹濕切換後因光學玻璃的介入會(hui) 導致會(hui) 聚光焦距變化，LAP-DW2000激光粒度儀(yi) 會(hui) 根據幹、濕法的不同自動調整主探測器，使主探測器始終在焦平麵上（實現光路三維自動校對）。

防塵、防震設計：儀(yi) 器整體(ti) 進行了密封設計，大幅提高了內(nei) 部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀(yi) 器的影響，使測試結果更穩定可靠。

強防腐設計（選配）：根據客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油（含一切溶劑油）、耐有機溶劑。

進口氦-氖激光器：LAP-DW2000激光粒度儀(yi) 采用了高穩定、長壽命的進口氦-氖激光器，優(you) 良的單色性及穩定性讓LAP-DW2000擁有了*的測試重複性（標配為(wei) 國產(chan) ）。

光路自動校對：自動對焦係統，儀(yi) 器可自動校對光路。

*微量循環係統：整個(ge) 分散循環係統進行了優(you) 化設計，分散介質大於(yu) 150毫升即可循環測試，真正達到了微量循環測試；優(you) 化的設計保證排水後無廢液殘留，保證了下一次測試結果的準確性。

超寬量程：LAP-DW2000激光粒度儀(yi) 量程達到了0.1μm～2000μm。

免排氣泡設計：全新的設計使整個(ge) 測試過程不會(hui) 有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡影響。

樣品無殘留設計：儀(yi) 器管道及排水結構進行了優(you) 化設計，儀(yi) 器管道、循環泵內(nei) 無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響；幹法測試同樣進行了無殘留設計。

幹法計算機遠程控製喂料：LAP-DW2000幹法測試時測試人員可通過電腦遠端控製喂料速度，大大減少了測試人員的勞動強度。

樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷。

幹濕一體(ti) 激光粒徑檢測儀(yi) *的濕法循環分散係統，保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現象，測試完畢後無廢液積存設計，保證了下一次測試精度，使測試結果更真實可靠；幹法分散采用力了直線噴射分散設計，樣品經過高壓氣體(ti) 分散後垂直向後方飛行，避免了待測小顆粒的二次團簇，同時采取了管道無殘留設計，保證了測試不同樣品的準確性。*的光路自動校對係統、幹濕一鍵切換係統、幹法電腦遠端控製喂料係統等精心設計彰顯出LAP-DW2000*優(you) 勢。