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LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

更新時間:2023-10-18

簡要描述:

LAP-W2000濕法激光粒度儀(yi) 廠家
易仕特主營產(chan) 品包括幹法激光粒度儀(yi) ,濕法激光粒度儀(yi) ,幹濕一體(ti) 激光粒度儀(yi) ,噴霧激光粒度儀(yi) ,圖像粒度分析儀(yi) ,固體(ti) 密度計,液體(ti) 密度計,在線密度計,快速水分測試儀(yi) ,粉末測試儀(yi) 器等等檢測設備。

產(chan) 品名稱:LAP-W2000濕法激光粒度儀(yi) 廠家

技術標準:ISO 13320-1:1999GB/T19077.1-2008

測試範圍: 0.1um1250um 0.1um2000um

探測單元:8696

激光類型:進口光纖半導體(ti) 激光器

【易仕特主營產(chan) 品包括幹法激光粒度儀(yi) ,濕法激光粒度儀(yi) ,幹濕一體(ti) 激光粒度儀(yi) ,噴霧激光粒度儀(yi) ,圖像粒度分析儀(yi) ,固體(ti) 密度計,液體(ti) 密度計,在線密度計,快速水分測試儀(yi) ,粉末測試儀(yi) 器等等檢測設備。】

LAP-W2000濕法激光粒度儀(yi) 廠家

LAP-W2000濕法激光粒度儀(yi)
首先感謝您對LAP-W2000濕法智能全自動激光粒度分析儀(yi) 的關(guan) 注!
LAP-W2000是我公司傾(qing) 力研發的產(chan) 品,自上市以來贏得了廣大客戶的*好評。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和會(hui) 聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法,保證了測試結果的準確性和重複性。*的濕法循環分散係統,保證顆粒測試過程中無顆粒沉積現象,測試排水後無廢液積存現象,保證了第二次測試精度,使測試結果更真實可靠;同時采取了管道無殘留設計,保證了測試不同樣品的準確性。*的光路自動校對係統彰顯出LAP-W2000*優(you) 勢。

適用範圍:

LAP-D800幹法激光粒度儀(yi) 適用於(yu) 水泥、陶瓷、藥品、塗料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chan) 品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、麵粉、食品、添加劑、農(nong) 藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與(yu) 非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體(ti) 行業(ye) 。
LAP-W2000激光粒度分析儀(yi) 主要性能特點:
*的光路設計:LAP-W2000采用會(hui) 聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得大量程,有效提高儀(yi) 器的分辨能力;*的高密度探測單元,讓6100-C擁有了*的小顆粒測試能力,高密度探測單元使LAP-W2000具有*的全量程無縫測試能力,高配版采用了雙光路設計。
防塵、防震設計:儀(yi) 器整體(ti) 進行了密封設計,大幅提高了內(nei) 部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀(yi) 器的幹擾,使結果測試更穩定可靠。
自動對中:自行研製的自動對中係統包括步進電機、精密導軌、精密控製器以及軟件係統組成,較小步距1微米,保證激光束焦點始終從(cong) 探測器中心點穿過,提高測試結果的準確性以及測試的重複性。自動對中係統是易仕特所有型號激光粒度儀(yi) 的標準配置。
智能全自動操作模式:軟件實現一鍵式操作,自動進水、自動進樣、自動測試、自動清洗,整個(ge) 測試過程實現一鍵式全自動操作,使用方便快捷。
*微量循環係統:整個(ge) 分散循環係統進行了優(you) 化設計,分散介質大於(yu) 180毫升即可循環測試,真正達到了微量循環測試;所有接頭采用了速插快擰設計,短時間內(nei) 即可更換全部管道;優(you) 化的設計保證排水後無廢夜殘留,保證了下一次測試結果的準確性。
超寬量程:LAP-W2000量程達到了0. 1μm2000μm
超聲防幹燒:LAP-W2000配備了100W大功率超聲,同時具有超聲防幹燒功能。
誤操作保護:LAP-W2000具有自我保護功能,對一些會(hui) 損害儀(yi) 器的誤操作不響應,大大降低了因人為(wei) 誤操作造成的損壞。
露點測量:樣品窗結霧會(hui) 影響測量的準確性,這樣的測試結果沒有實際意義(yi) ,LAP-W2000加裝了有霧點測量係統,一旦起霧軟件會(hui) 自動提示。
免排氣泡設計:全新的設計使整個(ge) 測試過程不會(hui) 有氣泡進入測試樣品窗,避免了氣泡幹擾(免排氣泡功能技術我們(men) *擁有)。
樣品無殘留設計:儀(yi) 器管道及排水結構進行了優(you) 化設計,儀(yi) 器管道、循環泵內(nei) 無積液殘留,避免對下一次測試數據的影響;幹法測試同樣進行了無殘留設計。
樣品窗快換裝置:全新設計的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷(20秒鍾即可完成樣品窗的拆裝過程)。

穩定性及重複性達到國外儀(yi) 器標準

 LAP-W2000濕法激光粒度儀(yi) 廠家

主要技術參數:

規格型號

LAP-W2000

執行標準

ISO   13320-1:1999GB/T19077.1-2008

測試範圍

0.1μm -1250μm0.1μm -2000μm

探測器通道數

8696

準確性誤差

<1%(國家標準樣品D50值)

重複性誤差

<0.5%(國家標準樣品D50值)

免排氣泡

具備免排氣泡設計,無氣泡幹擾數據更準確

誤操作保護

儀(yi) 器具備誤操作自我保護功能,儀(yi) 器對誤操作不響應

激光器參數

進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm,  p>10mW

光路校準

光路自動校準

操作模式

電腦操作

測試速度

<1min/次(不含樣品分散時間)

體(ti) 積

980mm*410mm*450mm

重量

35Kg

激光粒度儀(yi) 樣品測試報告

 

 

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工廠地址:福建省廈門市同安區西柯鎮美人山中路288號廠房

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